应本所邀请，美国Radiant Imaging (RI)公司的CEO和创始人之一，Ron Rykowski 先生将于2010年12月15日访问本所，并作学术报告，欢迎感兴趣的同志和同学积极参加。

报告题目：Advances in Imaging Photometry/Colorimetry

报告时间：2010年12月15日上午11：00

报告地点：应光室五楼会议室

报告人简介：

Ron Rykowski，美国Radiant Imaging (RI)公司的CEO和创始人之一。有30年的软件开发，照明光学设计，光度测定和比色法的工作经验。Ron Rykowski先生是RI公司核心产品的技术领袖，包括PM系列相机，基于CCD的光度计和色度计，以及RSM（可生成光线集的近场光源模型）。在1992年组建RI公司以前，Ron Rykowski先生曾在美国MAI Systems公司做软件开发，美国Dyn-Optics公司做光学设计和光学薄膜的涂层设计。Ron Rykowski先生在美国加州大学欧文分校获得物理，化学和计算机科学的硕士学位。

报告摘要：

Imaging photometers and colorimeters have been in use for a wide variety of light and color uniformity measurements since the late 1990’s. More recently with the addition of specialized hardware and software, these versatile measurement tools can now be applied effectively in even more applications. This new applications, such as light scatter measurements, LED screen calibrations, and luminous intensity measurements will be discussed. Advancements in mura analysis for the traditional uniformity measurements will also be described.

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　  科研管理三处

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 二〇一〇年十二月十三日